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產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
通過特定波長激光激發(fā)指定材料，獲得熒光光譜，對熒光光譜進行采集并后處理呈現(xiàn)熒光各項特征。波長覆蓋紫外到近紅外（200-2500nm），可對2-12寸外延片進行測量。
自動晶片激光打標機
通過機械手搬運晶片，用特定激光器在晶片指定位置打標，實現(xiàn)對晶片的自動標記。可實現(xiàn)軟打標和硬打標。可打標半導體材料覆蓋：、Si、SiC、GaAs、InP、Al2O3（藍寶石）、Ge等材料。
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備
按照客戶要求實現(xiàn)晶片厚度、翹曲度的定制化測量。
晶片膜厚自動測量及分類機
多種解決方案實現(xiàn)多種材料，多層材料的表面薄膜厚度及微區(qū)薄膜厚度的自動測量。
晶片自動分類機
根據(jù)客戶需求定制晶片自動分類機，并實現(xiàn)其它輔助功能。
晶片方塊電阻自動測試機
采用電渦流法實現(xiàn)晶片表面方塊電阻及體電阻的自動測量。
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公司簡介
中拓光電，位于北京市中關(guān)村科技園昌平園，始創(chuàng)于2005年，是一家專業(yè)從事半導體光機電一體化專用設(shè)備的研發(fā)設(shè)計、裝配制造、銷售及技術(shù)服務(wù)的公司。
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聯(lián)系：
北京中拓光電科技有限公司 
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010-80125950 應用案例：
PL熒光光譜測量應用案例
自動晶片激光打標機應用案例
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備應用案例
晶片膜厚自動測量及分類機應用案例
產(chǎn)品介紹：
PL譜掃描成像儀
自動晶片激光打標機
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備
晶片膜厚自動測量及分類機
晶片自動分類機
晶片方塊電阻自動測試機